Увеличение сложности аппаратного обеспечения неизбежно
Увеличение сложности аппаратного обеспечения неизбежно влечет за собой развитие технологий разработки тестов. В настоящее время сложность аппаратуры достигла такого уровня, что ее тестирование немыслимо без применения методов автоматизации. Такие методы позволяют разрабатывать тестовые системы, которые автоматически генерируют тестовые последовательности, оценивают правильность поведения системы и собирают информацию о достигнутом уровне тестового покрытия. Однако следует понимать, что автоматизация это далеко не все, что требуется от современной технологии разработки тестов. В условиях постоянного изменения требований и непрерывной доработки проектов огромное значение приобретают такие характеристики технологии, как возможность повторного использования тестов и возможность создания тестов, устойчивых к изменениям реализации. Существующие подходы к построению тестовых систем, такие как AVM (Advanced Verification Methodology), URM (Universal Reuse Methodology), OVM (Open Verification Methodology) и UniTESK (Unified TEsting and Specification tool Kit), в той или иной степени решают обозначенные задачи, но многообразие существующих подходов усложняет взаимодействие между разными группами разработчиков. Стандартизация технологий разработки тестов является необходимым шагом в развитии полупроводниковой индустрии. Появление стандартов создаст предпосылки для отчуждения тестов, что окажет стимулирующее воздействие на рынок готовых компонентов (IPs, Intellectual Property Cores). Если тесты к компоненту аппаратного обеспечения разработаны с использованием общепринятого подхода, сторонние инженеры могут без труда разобраться в них и при необходимости дополнить, а это повышает доверие к компоненту, поставляемому третьей стороной. В последнее время в области тестирования моделей аппаратуры все большее распространение получает технология OVM, совместно разработанная компаниями Mentor Graphics и Cadence Design Systems. Предшественниками OVM являются два основных подхода: AVM (от Mentor Graphics) и URM (от Cadence Design Systems). В данной работе технология OVM вместе со своими предшественниками сравнивается с технологией UniTESK, разработанной в Институте системного программирования РАН. В статье анализируются сильные и слабые стороны указанных подходов, сопоставляются архитектуры тестовых систем, даются рекомендации по развитию инструментов UniTESK и их унификации с подходом OVM. Статья состоит из семи разделов, включая введение и заключение. Во втором разделе вводятся основные понятия, используемые в различных технологиях. Третий, четвертый и пятый разделы посвящены обзору технологий AVM, OVM и UniTESK соответственно. В этих разделах описываются основные принципы и архитектуры тестовых систем для каждого подхода. Шестой раздел содержит сравнительный анализ рассматриваемых технологий. В седьмом разделе делается заключение, в котором даются рекомендации по развитию технологии UniTESK.
